专利
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201710011951.2
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-06
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201710011818.7
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-06
专利名称：一种位线地址选择电路及非易失性存储器
专利号：201611092532.8
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-01
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201710010912.0
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-06
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201611242261.X
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-28
专利名称：稳压电路以及稳定电压的方法
专利号：201611001361.3
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-11-14
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201611242214.5
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-28
专利名称：鳍式场效应管及其形成方法
专利号：201710010535.0
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-06
专利名称：半导体器件及其形成方法
专利号：201611237765.2
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-28
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201611239033.7
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-28
专利名称：存储器结构及其形成方法
专利号：201710011804.5
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-06
专利名称：一种半导体器件的制造方法
专利号：201710060186.3
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-24
专利名称：一种半导体器件的制造方法
专利号：201710059012.5
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-01-23
专利名称：扫描反射镜监测系统及方法、调焦调平系统
专利号：PCT/CN2017/072214
专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
时间：2017-01-23
专利名称：粗动台防转装置和粗动台组件
专利号：201611076306.0
专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
时间：2016-11-29