专利
专利名称：一种半导体器件的制造方法和电子装置
专利号：201410220030.3
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-05-22
专利名称：SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
专利号：16/694,355
专利权人：SMIC(SH)
时间：2015-04-23
专利名称：光刻对准标记结构及形成方法、半导体结构的形成方法
专利号：201410505490.0
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-09-26
专利名称：PHOTOLITHOGRAPHY ALIGNMENT MARK STRUCTURES, SEMICONDUCTOR STRUCTURES, AND FABRICATION METHOD THEREOF
专利号：14/861,591
专利权人：SMIC(SH)
时间：2015-09-22
专利名称：PHOTOLITHOGRAPHY ALIGNMENT MARK STRUCTURES AND SEMICONDUCTOR STRUCTURES
专利号：15/445,076
专利权人：SMIC(SH)
时间：2017-02-28
专利名称：掩模版及其形成方法
专利号：201410425884.5
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-08-26
专利名称：半导体器件的形成方法
专利号：201410042193.7
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2014-01-28
专利名称：一种半导体器件的制备方法
专利号：201410166802.X
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2014-04-24
专利名称：INTERCONNECT STRUCTURE AND METHOD FOR FORMING THE SAME
专利号：14/583,878
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-12-29
专利名称：鳍式场效应晶体管及其形成方法
专利号：201410131205.3
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-04-02
专利名称：一种降低晶圆报废率的方法
专利号：201410136511.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-04-04
专利名称：一种金属栅极结构及其制备方法
专利号：201410016255.7
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2014-01-14
专利名称：金属互连结构的制作方法
专利号：201410265013.1
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-06-13
专利名称：半导体结构及其形成方法
专利号：201410113740.6
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-03-25
专利名称：半导体器件的形成方法
专利号：201410076961.0
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2014-03-04
