专利
专利名称：METHOD AND SYSTEM FOR PREDICTING HIGH-TEMPERATURE OPERATING LIFE OF SRAM DEVICES
专利号：15/348,669
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-11-10
专利名称：掩膜版图形的修正方法
专利号：201610407445.0
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-06-12
专利名称：化学机械抛光仿真的方法和装置
专利号：201610221234.8
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-04-11
专利名称：Chemical Mechanical Polishing Simulation Methods and Simulation Device Thereof
专利号：17164955.1
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-04-05
专利名称：CHEMICAL MECHANICAL POLISHING SIMULATIO METHODS AND SIMULATION DEVICES THEREOF
专利号：15/482,880
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2017-04-10
专利名称：掩膜版图形的修正方法
专利号：201610407624.4
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-06-12
专利名称：电压调节器
专利号：201610664942.9
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-08-12
专利名称：半导体结构及其形成方法和水印识别方法
专利号：201610407328.4
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-06-12
专利名称：半导体测试结构及其形成方法
专利号：201611111149.2
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-02
专利名称：目标图形的修正方法
专利号：201610788930.7
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-08-31
专利名称：半导体结构及其形成方法、测量电容的方法
专利号：201610919830.3
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-10-21
专利名称：测试结构及其形成方法、测试方法
专利号：201611262695.6
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-30
专利名称：自加热效应模型及测试方法
专利号：201611207623.1
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-23
专利名称：建立可制造性设计模型的数据处理方法及其数据处理装置
专利号：201611270857.0
专利权人：SMIC(SH)-SMIC(BJ)
时间：2016-12-30
专利名称：ELECTRICALLY CONDUCTIVE DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
专利号：14/560,729
专利权人：SMIC(SH)
时间：2014-12-04
