第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛成功在南通召开
2018年9月7日,第二届集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在南通成功举办。此次高峰论坛由集成电路产业技术创新战略联盟指导,由中国半导体行业协会、国家集成电路产业投资基金支持,由南通市人民政府与集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟合主办,由南通市电子信息产业联盟与通富微电股份有限公司联合承办。大会特邀集成电路产业技术创新战略联盟理事长曹健林,中国科学院微电子研究所所长、集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟理事长叶甜春,工业与信息化部原司长郑敏政,国家集成电路产业投资基金股份有限公司总裁、半导体行业协会副理事长丁文武等领导出席,同时邀请了南通市政府的相关领导、联盟专家咨询委的有关专家。参会嘉宾近200名,包括测试联盟成员单位、集成电路产业链上下游主要单位和其他单位代表。
南通市副市长赵闻斌先生首先代表市政府向与会嘉宾表示热烈的欢迎并介绍了南通的历史环境和产业优势。当前,南通正全力打造“3+3+N”现代产业体系,并把新一代信息技术产业作为重点打造的引领性、龙头性、地标性产业。此次论坛以信息技术与制造技术深度融合为主线,并希望各位专家畅所欲言,为南通集成电路持续、合作、共赢的产业发展环境建言献策,并祝愿大会取得圆满成功。
曹健林先生代表集成电路产业技术创新战略联盟理事长指出随着国家重大科技专项和国家集成电路产业投资基金的投入,感受到了中国的进步,产业细分领域的出现本身就是国家科技进步,技术进步,产业进步的衡量和表述。随着集成电路产业不断发展,专用的检测及装备,迎来了历史发展良机,中国市场已具备了技术和财力,只需要团结起来更好的融合到中国的发展中。此次国际高峰论坛的顺利召开,将对进一步促进国内外集成电路检测及测试技术领域的交流与合作、推进集成电路领域产业链上下游的深度合作具有深刻意义。
测试联盟理事长叶甜春在致辞中指出检测和测试是集成电路不可或缺的环节也是比较弱的环节,重大专项实施10年,集成电路有了长足进展,但产业布局中测试仍为短板,需咬紧牙关,实现全面的突破与提升,并在国际产业链要占有重要的位置。同时他指出面向未来的发展,中国集成电路产业无疑还有巨大的发展潜力,产品多样化提出了更高的测试技术需求,测试产业未来会有更大的发展空间。测试联盟的成立和规划建立的集成电路“测谷”,其目的就是适应产业的形势变化与需求,围绕产业发展急需,聚集产业优势力量,聚焦、聚能、聚力,共同谋求发展。
国家集成电路产业投资基金股份有限公司丁文武总裁讲话中给测试技术和产业提出了更多的发展建议,包括政策与环境、产业链联动协调、资本互动,引进培养人才,开放交流等,希望通过会议然可以为测试行业发展搭建平台,让专家让企业家为产业发展献计献策,为中国芯的实现做出贡献。
国家科技重大专项电子信息领域监督评估专家组专家郑敏政先生代表测试联盟专家咨询委发言,他表示测试技术与装备需要探索创新方法、创新技术,在大形势之下借助全产业链的发展互动,走出一条有特色的快速发展之路。大家各位任重道远,最终实现测试的后发优势。
本次国际高峰论坛以“集成电路检测及测试平台与产业链建设”为主题,旨在进一步促进集成电路检测与测试技术领域的广泛交流与合作,探讨面临的挑战与未来发展。会议邀请了Mentor Graphics、电子科技大学、长鑫存储、上海御渡、北京智芯微电子、北京华大九天等国际、国内知名学者和产业龙头企业围绕ATE机台、光学检测、EDA设计测试等方面,进行了主题报告,并举办沙龙讨论,就测试与设计、测试开发、测试设备、测试管理、驱动测试、测试分析等在功率器件、存储器等共同关心的相关问题进行深入的交流和研讨。
当前,国家全面深化改革,发展壮大新动能,加快制造强国建设,其中集成电路产业始终是中国国家科技与产业支持的重点。面向集成电路产业的未来发展,随着后摩尔时代的来临,以及5G、物联网、汽车电子的蓬勃兴起,技术产品加速变革创新,集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟秉承“开放、协作、分享、共赢”的理念,围绕国家集成电路产业占中的大宗、重点产品的设计、工艺流程优化和IC可靠性分析以及制造成本控制等问题进行交流研讨,无疑对加强产业界的交流与合作,促进中国集成电路产业生态健康良性发展具有重要的作用。
大会现场照片
大会现场照片
曹健林理事长致辞
叶甜春大会主席致辞
沙龙讨论环节